Étude de l'influence de la température sur la résistance d'un semi conducteur

VP7.2.2.2
Étude de l'influence de la température sur la résistance d'un semi conducteur
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Description

Dans les expériences P7.2.2.1 et P7.2.2.2, on mesure la valeur de la résistance en fonction de la température dans un montage en pont de Wheatstone. On utilise l'interface CASSY pour enregistrer et afficher les courbes. Pour la résistance en métal précieux, on confirme la relation suivante avec une bonne précision dans le domaine de température étudié :

Pour le semi conducteur, l’exploitation donne une dépendance de la forme

pour l'intervalle de bandes ΔE = 0,5 eV.

Détails d’équipement

1 586821 Résistance à semi-conducteur 5 kΩ LD
1 55581 Four électrique tubulaire, 230 V LD
1 524013 Sensor-CASSY 2 LD
1 524220 CASSY Lab 2 LD
1 5240673 Connecteur adaptateur NiCr-Ni S, type K LD
1 529676 Sonde de température NiCr-Ni, 1,5 mm, type K LD
1 524031 Adaptateur source de courant LD
1 502061 Boîte de jonction de sécurité avec mise à la terre LD
1 500614 Câble de connexion de sécurité 25 cm, noir LD
1 500621 Câble de connexion de sécurité 50 cm, rouge LD
1 500622 Câble de connexion de sécurité 50 cm, bleu LD
1 En complément :
PC avec Windows XP/Vista/7/8/10 (x86 ou x64)

Mode d’emploi de l’essai

PDF (Description tirée de CASSY Lab) PDF (Description tirée de CASSY Lab) P7.2.2.2 Étude de l'influence de la température sur la résistance d'un semi conducteur
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