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Balayage de Debye-Scherrer : détermination de l’écartement des plans réticulaires d’échantillons de poudre polycristallins

VP7.1.2.4
Balayage de Debye-Scherrer : détermination de l’écartement des plans réticulaires d’échantillons de poudre polycristallins
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Description

Analogiquement à l'expérience P7.1.2.4, l'expérience P7.1.2.3 utilise pour la représentation des maximums de l'intensité un tube compteur Geiger-Müller au lieu d'un film pour rayon X. L'intensité, fonction du double angle d'incidence 2ϑ, est mesurée à l'aide d'un rayonnement du rayon X diffracté sur un échantillon de poudre de cristal. On peut déterminer les écartements réticulaires à partir des maxima d'intensité du spectre de diffraction.

Détails d’équipement

1 554800 Appareil de base à rayons X LD
1 554862 Tube à rayons X, Cu LD
1 554831 Goniomètre LD
1 55901 Tube compteur à fenêtre pour rayonnements α, β, γ et X avec câble LD
1 554842 Support pour poudre cristalline LD
1 667091 Pilon 88 mm LD
1 667092 Mortier 30 ml, 56 mm x 36 mm LD
1 666960 Microcuillère à poudre, 150 mm LD
1 6735700 Chlorure de sodium, 250 g LD
1 6730520 Fluorure de lithium, p.a., 10 g LD
GHS06 Danger H301 H335 H315 H319
1 En complément :
PC avec Windows XP/Vista/7/8/10 (x86 ou x64)

Mode d’emploi de l’essai

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